電子電氣

 

　　1.RoHS指令、無(wú)鹵素等篩選分析；

 

　　2.半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽(yáng)能電池等各種薄膜分析；

 

　　汽車(chē)機(jī)械

 

　　1.應(yīng)對(duì)ELV指令的篩選分析；

 

　　2.各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測(cè)；

 

　　鋼鐵非金屬

 

　　1.原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析；

 

　　2. 爐渣的組成分析；

 

　　在測(cè)定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測(cè)比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。

 

　　的分析性能

 

　　采用高性能的SDD檢測(cè)器，確保硬件*化，具有*的高靈敏度·高速分析和高分辨率?？梢詸z測(cè)出6C～的機(jī)型正式上線（EDX-8000）。

 

　　高靈敏度提高檢測(cè)下限1.5～5倍，高性能的SDD檢測(cè)器與*化的光學(xué)系統(tǒng)和一次濾光片的組合，實(shí)現(xiàn)*的高靈敏度。從輕元素到重元素，全范圍輕松應(yīng)對(duì)。與采用傳統(tǒng)Si（Li）半導(dǎo)體檢測(cè)器的分析裝置相比，靈敏度也更勝*。

 

　　高速的分析速度zui大可提高10倍，SDD檢測(cè)器在單位時(shí)間X射線熒光的計(jì)數(shù)率高，因此能夠在更短的檢測(cè)時(shí)間內(nèi)進(jìn)行高精度分析。特別是對(duì)金屬材料的分析，這個(gè)特點(diǎn)可以得到zui大限度的發(fā)揮。